比表面积分析仪F-Sorb 2400-金埃谱
F-Sorb X400系列比表面积及孔径(孔隙度)分析测试(测定)仪是北京金埃谱科技公司与兵器系统研究机构合作研发的新一代产品,可完全实现测试过程的自动化和智能化,显著提高测试效率.
恒温恒湿试验箱
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四点弯-半导体薄膜结合力检测系统V8.2是独创的四点弯测试系统,来自于史坦福大学,半导体专业生产线应用,经历超过8年的开发和优化来提高测试能力、稳定性和产量。系统和软件的控制通过大量的修正来提高测试能力、控制和数据分析。可以满足微电子设备、工具和材料公司的
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